Questão Q484846
2004 Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)
Prova: Concurso Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT) - Técnico 2 (Código B7) - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2004 Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)

Os circuitos de I a IV, cujos diagramas estão mostrados a...

Os circuitos de I a IV, cujos diagramas estão mostrados acima, utilizam diodos semicondutores que, quando estão em condução direta, apresentam queda de tensão constante e igual a 0,8 V entre o ânodo e o cátodo. Suponha que esses circuitos façam parte de um equipamento e que, durante procedimento de manutenção corretiva, as tensões indicadas por V m são medidas com o objetivo de tirar conclusões a respeito da existência ou não de defeito em algum dispositivo semicondutor. Considere que o defeito em um diodo é caracterizado pelo fato de ele estar em curto-circuito ou em circuito aberto, quando era esperado que o dispositivo estivesse conduzindo. Considere também que as resistências existentes nesses circuitos não apresentem alteração em seus valores. Diante do exposto, julgue os seguintes itens.

No circuito I, o diodo D1 está com defeito.

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