Questão
Q484552
Prova: Concurso Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO) - Pesquisador em Metrologia Área Metrologia Óptica - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2007
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Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)
Em várias situações de medidas ópticas, a característica...
Em várias situações de medidas ópticas, a característica ondulatória da luz se manifesta com mais evidência. Em relação a esse assunto, julgue os seguintes itens.O padrão de interferência que se obtém no experimento da fenda dupla desaparece se forem colocados dois polarizadores, com polarizações cruzadas, um em cada fenda. Nesse caso, obtém-se um padrão de difração de fenda simples.
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