Questão Q484544
2007 Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)
Física Geral
Prova: Concurso Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO) - Pesquisador em Metrologia Área Metrologia Óptica - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2007 • Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)

Em várias situações de medidas ópticas, a característica...

Em várias situações de medidas ópticas, a característica ondulatória da luz se manifesta com mais evidência. Em relação a esse assunto, julgue os seguintes itens.

A figura abaixo ilustra o tipo de padrão que se pode observar em um anteparo distante de uma fenda linear uniformemente iluminada por um feixe de luz colimado. Essa figura mostra a difração de Fraunhofer da fenda, em que as ondas que chegam ao anteparo podem ser tratadas como ondas planas.

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