Questão Q484293
2007 Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)
Prova: Concurso Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO) - Pesquisador em Metrologia Área Metrologia de Materiais/Microscopia - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2007 Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO)

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microsc...

Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.

No STM, é possível obter informações a partir da corrente elétrica que flui entre a ponta de prova do microscópio e a amostra.

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