Questão Q425047
2004 Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)
Prova: Concurso Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT) - Técnico I (Código F1) - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2004 Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)

Com relação à identificação de componentes defeituosos e...

Com relação à identificação de componentes defeituosos e à manutenção de equipamentos eletrônicos, julgue os itens seguintes.

No teste de um transistor NPN em perfeito estado, se o terminal com potencial mais positivo do multímetro estiver em contato com a base e o terminal com potencial mais negativo do multímetro estiver em contato com o emissor, então, nessa situação, a resistência medida deverá ser altíssima.

Comentários

Faça login para participar da discussão.

Cadastre-se Gratuitamente
Carregando comentários...