Questão
Q425047
Prova: Concurso Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT) - Técnico I (Código F1) - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2004
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Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)
Com relação à identificação de componentes defeituosos e...
Com relação à identificação de componentes defeituosos e à manutenção de equipamentos eletrônicos, julgue os itens seguintes.
No teste de um transistor NPN em perfeito estado, se o terminal com potencial mais positivo do multímetro estiver em contato com a base e o terminal com potencial mais negativo do multímetro estiver em contato com o emissor, então, nessa situação, a resistência medida deverá ser altíssima.
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