Questão Q425045
2004 Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)
Engenharia Eletrônica Geral
Prova: Concurso Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT) - Técnico I (Código F1) - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) do ano 2004 • Ministério da Ciência e Tecnologia (MCT)

Com relação à identificação de componentes defeituosos e...

Com relação à identificação de componentes defeituosos e à manutenção de equipamentos eletrônicos, julgue os itens seguintes.

Um multímetro analógico pode ser utilizado para determinar, com eficácia, se um diodo, desconectado de circuitos, está ou não danificado.

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