A determinação e análise de materiais cristalinos pode ser possível com a utilização da técnica de difração de raios-X, por meio da determinação dos raios difratados por planos atômicos e da Lei de Bragg: nλ = 2dhkl senθ (um dos principais parâmetros para a análise é a determinação da distância interplanar dhkl e o ângulo de difração 2θ). Considerando um material de estrutura cristalina cúbica de corpo centrado, com parâmetro de rede de 0,30 nm, ordem de reflexão 1, e supondo ainda que foi utilizada radiação monocromática com comprimento de onda de 0,15 nm, calcule: (1) a distância interplanar e (2) o ângulo de difração para o conjunto de planos (200).
Distância interplanar = 0,075 nm, e ângulo de difração 2θ = 60º.
Distância interplanar = 0,150 nm, e ângulo de difração 2θ = 45º.
Distância interplanar = 0,075 nm, e ângulo de difração 2θ = 30º.
Distância interplanar = 0,150 nm, e ângulo de difração 2θ = 30º.
Distância interplanar = 0,150 nm, e ângulo de difração 2θ = 60º.
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